style="width:9.04722in;height:2.50694in" /> 本文是学习GB-T 35102-2017 信息技术 射频识别 800-900MHz空中接口符合性测试方法. 而整理的学习笔记,分享出来希望更多人受益,如果存在侵权请及时联系我们
本标准依据GB/T 29768—2013 规定了840 MHz～845
中接口的符合性测试方法。
本标准适用于840 MHz～845MHz 和920 MHz～925
接口符合性测试。
MHz和920 MHz～925 MHz射频识别空
MHz射频识别设备(读写器和标签)的空中
下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文
件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
GB/T 29261.3—2012 信息技术 自动识别和数据采集技术 词汇
第3部分：射频识别
GB/T 29768—2013 信息技术 射频识别 800/900 MHz 空中接口协议
GB/T 29261.3—2012 界定的术语和定义适用于本文件。
GB/T 29768—2013界定的以及下列符号适用于本文件。
PW 脉冲宽度。
Target 盘点标志。
G₁ 天线增益。
T。 前向链路基准时间。
Tp 标签到读写器通信链路的基准时钟周期。
TRe 前导信号指示。
ds 读写器天线与测试天线之间的距离。
d 读写器天线与标签模拟器之间的距离。
λ 工作频率对应的波长。
GB/T 29768—2013界定的以及下列缩略语适用于本文件。
AM: 幅度调制(amplitude modulation)
ASK: 幅移键控(amplitude shift keying)
DSB-ASK: 双边带幅移键控(double-sideband amplitude shift keying)
GB/T 35102—2017
DUT: 被测设备(device under test)
ID:标识符(identifier)
PSK: 相移键控(phase shift keying)
RBW: 分辨率带宽(resolution bandwidth)
SSB-ASK: 单边带幅移键控(single-sideband amplitude shift keying)
VBW: 视频带宽(video bandwidth)
VSWR: 电压驻波比(voltage standing wave ratio)
除另有规定外，测试应在23℃±3℃,相对湿度为40%～60%无凝结的环境下进行。
测试前应将 DUT 在测试环境中放置24 h。
除另有规定外，测试设备特性和测试过程产生的量值允差为±5%。
除另有规定外，测试应在电波暗室中进行。当电波暗室限制了设备的移动和测试距离时，允许测试
在开阔测试环境下进行。测试场地参见附录 A。
与测试DUT 相同条件下，使用频谱分析仪测量测试位置的噪声电平至少1 min。
在10 kHz 测量带宽下，噪声电平在0.5 GHz～2GHz 频率范围内最大值为一60
dBm; 在
800 MHz～960 MHz的工作频率范围内，噪声电平的最大值为—90 dBm。
应特别注意杂散辐射，如未充分屏蔽的计算机显示器。
测试方法规定的测试量的扩展不确定度应在测试报告中予以说明。
4.1.7 测试方法与基础标准要求的关系
本标准与GB/T 29768—2013要求的关系参见附录 B。
测试天线应带有阻抗为50Ω的天线连接器。在测试所采用的频率范围内，天线
VSWR 应不大于
1.2:1。
定向耦合器应选用阻抗为50Ω的三端口器件。在测试所采用的频率范围内，定向耦合器端
口的 VSWR 应不大于1 . 2:1,定向耦合器的耦合度应不大于10 dB,
带内不平坦度应不大于
GB/T 35102—2017
4.2.2 读写器工作频率及调制测试装置
读写器工作频率及调制测试装置包括测试天线和频谱分析仪(见4.4.1),如图1所示。测试天线与
被测读写器天线的距离(ds) 设置为3λ或102。
style="width:9.04722in;height:2.50694in" />
图 1 读写器工作频率及调制测试装置
4.2.3 读写器解调和链路时序测试装置
读写器解调和链路时序测试装置包括标签模拟器和数字示波器(见4.4.2),如图2所示。
在读写器解调和链路时序测试时，附录C
中规定的标签模拟器应在读写器天线主功率辐射法线方
向上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线dπ 处放置，d 设置为3λ或10λ。
style="width:10.99996in;height:2.4266in" />数字示波器
标签模拟器
标签模拟器
天线
被测读写器
天线
dn
图 2 读写器解调和链路时序测试装置
4.2.4 带定向耦合器的读写器测试装置
带定向耦合器的读写器测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、标签模拟
器，如图3所示。带定向耦合器的读写器测试装置既可用于读写器的前向链路的测试，也可用于标签响
应的链路时序测试。测试天线与读写器天线的距离(ds) 设置为3λ或10λ。
style="width:10.00011in;height:3.33322in" />标签
模拟器
定向耦合器
测试天线
被测读写器
读写器天线
ds
频谱 数字
分析仪 示波器
图 3 带定向耦合器的读写器测试装置
GB/T 35102—2017
基准标签应符合 GB/T 29768—2013,至少支持GB/T 29768—2013
的必选命令。基准标签的 T₁ 值
的应在GB/T 29768—2013要求的范围内。
读写器天线应满足表1的规定。
表 1 用于标签测试的读写器天线要求
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|---|---|---|---|
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0.1 m |  |
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2 dBi | 8 dBi |
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定向耦合器的要求见4.2.1。
4.3.2 标签解调和链路时序测试装置
标签解调和链路时序测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、矢量信号发
生器，如图4所示。在标签解调和链路时序测试时，被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方向
上、以接收场强的最优朝向、距离读写器天线ds 处放置，ds 设置为3λ或10λ。
style="width:9.25347in;height:3.14028in" />
图 4 标签解调和链路时序测试装置
标签反向散射测试装置包括读写器天线、定向耦合器、频谱分析仪、数字示波器、矢量信号发生器，
如图5所示。该装置中包含两个集成的天线，其中一个用作读写器天线，用于矢量信号发生器的信号发
射，另一个用作测试天线连接到频谱分析仪或数字示波器，两个天线平行放置，应减少两个天线间的信
号耦合。
标签反向散射测试装置用于测试标签的返回信号。被测标签应置于读写器天线主功率辐射法线方
向上、以最优接收场强的朝向、距离读写器天线ds 处放置，ds
设置为3λ或10λ。
GB/T 35102—2017
style="width:9.22014in;height:3.14028in" />
图 5 标签反向散射测试装置
测试用读写器应实现GB/T 29768—2013
规定的读写器的必选功能。测试用读写器的 T₂、T。 和
T, 时间应满足 GB/T 29768—2013 中的要求，工作频率在840 MHz～845 MHz 和920
MHz~
925 MHz,能够解调FMO 基带编码、米勒基带编码以及副载波调制，且能够按照
GB/T 29768—2013 中
6.1要求提供防碰撞测试功能。
频谱分析仪的 RBW 应为30 kHz,VBW 应为100 kHz,
最小频宽应支持8倍数据速率。测试时应 使用最大峰值进行检波，应使用1 kHz
分辨率带宽测试高于频谱分析仪噪声电平3 dB 的幅度信号或噪 声；应能够以±2
dB 准确度测试与当前信号10 kHz 频率的偏差、比当前信号电平高90 dB
的信号；频 率标记读精确度应在子带隔离±2%范围内，应能够实现±1 dB
的相对幅度测试以及能够显示分辨频
率偏差为1 kHz 的两个信号。
当频谱分析仪不具备测试所需的矢量分析功能时，可采用采样后软件分析的方法。
采用数字示波器，应至少具有100 M/s
的采样率和8位的分辨率；否则，数字示波器应至少具有
1GHz 的带宽和5 G/s 的采样率。
矢量信号发生器的电平分辨率至少为0.1 dB, 寄生谐波小于-30 dB,AM
深度支持0%～100%;
AM 分辨率至少为0. 1%,AM 畸变应小于2% ,AM 平坦度小于0.3 dB,
频率准确度应达到0.01 Hz,
VSWR 应 小 于 1 . 5 : 1 。
验证读写器是否使用DSB-ASK 或者 SSB-ASK
方式调制射频载波；验证读写器工作频率是否为 840 MHz～845 MHz和920
MHz～925MHz, 频带内共40个信道，信道中心频率计算见GB/T 29768—
2013中5.2.2。
GB/T 35102—2017
读写器调制方式和工作频率测试步骤如下：
a) 采用图1所示的测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 按表2中定义的首个测试用例参数设置被测读写器工作频率和调制方式；
d) 设置频谱分析仪为功率-频率模式，并处于功率触发等待中；
e) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表3;
f) 频谱分析仪被启动查询命令触发后，采集并保存发送信号曲线；
g)
根据采集到的功率-频率曲线验证被测读写器发送信号的调制方式和工作频率；
h)
按表2中定义的测试用例参数改变被测读写器工作频率和调制方式，重复步骤
d)～g), 直至 所有40个信道的工作频率和调制方式都测试完毕。
注： 当频谱分析仪不支持读写器的调试方式时，可采用采样后软件解调的方式进行解调方式分析。
表 2 读写器调制方式和工作频率测试用例
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|---|---|---|
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表 3 启动查询命令测试参数
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测试报告应记录被测读写器支持的调制方式，以及所有被测信道下实际测量的工作频率。
验证读写器邻信道功率比是否满足 GB/T 29768—2013
中5.2.4的要求：第一邻道泄漏比应小于
-40 dB,第二邻道泄漏比应小于—60 dB。
读写器邻信道功率泄漏比测试步骤如下：
a) 被测读写器天线端口通过衰减器与频谱分析仪连接；
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b)
频谱分析仪的中心频率设置为被测读写器的工作频率，设置频率扫宽(建议大于5倍信道带
宽)、分辨率带宽(建议为10 kHz);
设置频谱分析仪邻信道泄漏比参数，信道间隔为250 kHz, 频率偏置分别为±250
kHz, 信道功率积分带宽为250 kHz;
c) 开启被测读写器，被测读写器工作在固定信道，连续发射调制信号；
d)
设置频谱分析仪为功率-频率模式，采集被测读写器信号，测量邻信道功率比的数值；
e) 选择高、中、低三个信道重复步骤 c)和 e)。
测试报告应记录测试所选的高、中、低三个信道的工作频率，调制信号的 T.
值，以及在对应信道下
测量的第一邻道泄漏比和第二邻道泄漏比。
5.3 读写器打开和关闭载波时的射频信号包络
验证读写器打开和关闭载波时的射频信号包络是否符合GB/T 29768—2013
中5.2.5的要求：打开 载波时射频包络的上升时间应在1μs～500μs
范围内，射频信号包络纹波过冲应不大于载波信号幅度
的5%,射频信号包络纹波欠冲应不大于载波信号幅度的5%;关闭载波时射频包络的下降时间应在
1μs～500μs
范围内，射频信号包络纹波过冲应不大于载波信号幅度的5%,射频信号包络纹波欠冲应
不大于载波信号幅度的5%。
读写器打开和关闭载波时的射频信号包络测试步骤如下：
a) 采用图1或图3所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率；
b)
设置频谱分析仪或数字示波器为功率一时间模式，并处于上升沿触发等待中；
c) 被测读写器打开载波，在载波上升到最大幅度后应保持至少1500 μs
的稳定；
d) 使用频谱分析仪或数字示波器采集至少2000 μs 的信号；
e)
测量被测读写器射频信号包络的上升时间、射频信号包络纹波过冲和射频信号包络纹波欠冲；
f)
设置频谱分析仪或数字示波器为功率一时间模式，下降沿触发方式采集信号；
g) 被测读写器关闭载波，在载波下降到最小幅度后应保持至少1500 μs
的稳定；
h) 使用频谱分析仪或数字示波器采集至少2000μs 的信号；
i)
测量被测读写器射频信号包络的下降时间、射频信号包络纹波过冲和射频信号包络纹波欠冲。
上升时间和下降时间测量、包络纹波过冲和包络纹波欠冲的测量见 GB/T
29768—2013 中5.2.5的
图2的要求，上升时间和下降时间测量应以射频信号幅度的10%和90%为起止。
测试报告应记录打开载波时的射频包络上升时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包络纹波欠
冲；关闭载波时射频包络的下降时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包络纹波欠冲。
验证读写器到标签的射频信号包络是否符合 GB/T 29768—2013
中5.2.6的要求：调制深度应在
30%～100%范围内，射频信号包络纹波过冲应不大于射频信号幅度的5%,射频信号包络纹波欠冲应
不大于射频信号幅度的5%,射频信号包络上升时间应在1μs～0.66T。
范围内，射频信号下降时间应在
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1μs～0.66T。,脉冲宽度应在0.5T。～1.1T。范围内。
读写器到标签的射频信号包络测试步骤如下：
a) 采用图1或图3所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率；
b)
被测读写器工作在支持的工作信道，默认工作信道为信道0,调制方式、前向链路基准时间
T。 和调制方式设置见表4;
c)
设置频谱分析仪或数字示波器为功率一时间模式，并处于下降沿触发等待中；
d) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表3;
e) 频谱分析仪或数字示波器采集完整的启动查询命令信号；
f)
测量被测读写器的调制深度、射频信号包络上升时间、射频信号包络下降时间、射频信号包络
纹波过冲、射频信号包络纹波欠冲和脉冲宽度；
g)
改变被测读写器的调制方式、前向链路基准时间T。和调制深度，重复步骤a)～f),直至表4中
所有测试用例都测试完毕；
h) 改变频谱分析仪的中心频率和被测读写器的工作信道，重复步骤 a)～g)。
脉冲宽度测量、包络纹波过冲和包络纹波欠冲的测量见 GB/T 29768—2013
中5.2.6的图3的要
求，脉冲宽度测量应以脉冲的上升和下降包络的50%为起止。
表 4 读写器到标签的射频信号包络测试用例
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|---|---|---|---|
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测试报告应记录被测读写器的调制方式、调制深度、T。时间、射频信号包络纹波过冲、射频信号包
络纹波欠冲、射频信号包络上升时间、射频信号包络下降时间、脉冲宽度。
验证读写器数据编码是否符合 GB/T 29768—2013
中5.2.7的要求：符号'00'的持续时间为2T。,
符号'01'的持续时间为3T。,符号‘11'的持续时间为4T,
符号‘10'的持续时间为5T。,4 种符号的长度
允差均为±1%;T。可以取6.25 μs或者12.5 μs,长度允差为±1%。
读写器数据编码测试步骤如下：
a) 采用图1或图3所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率；
b)
被测读写器工作在支持的工作信道，默认工作信道为信道0,调制方式、前向链路基准时间
T。 和调制方式设置见表4;
c)
设置频谱分析仪或数字示波器为功率一时间模式，并处于下降沿触发等待中；
GB/T 35102—2017
d) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表3;
e) 频谱分析仪或数字示波器采集完整的启动查询命令信号；
f)
测量启动查询命令中符号‘00'、符号‘01'、符号‘10'、符号‘11'的持续时间；
g)
改变被测读写器的调制方式、前向链路基准时间T。和调制深度，重复步骤a)～f),直至表4中
所有测试用例都测试完毕；
h) 改变频谱分析仪的中心频率和被测读写器的工作信道，重复步骤 a)～g)。
符号长度测量见图6,符号长度测量应以前一符号上升包络和本符号上降包络的50%为起止。
style="width:12.00013in;height:5.78564in" />
时间/ms
图 6 数据编码测量示例
测试报告应记录被测读写器的调制方式、调制深度、T。时间、符号‘00'、'01'、'10'和‘11'的长度，
并计算长度允差。
验证读写器前导码是否符合 GB/T 29768—2013
中5.2.8的要求：读写器前导码中分隔符的持续时
间为12.5μs,分隔符长度允差为±5%,校准符一的持续时间为8T。,校准符二的持续时间为2T。,校准
符一和校准符二的长度允差均为±1%。
读写器前导码测试步骤如下：
a) 采用图1或图3所示测试装置进行测试，将被测读写器设定为最大发射功率；
b)
被测读写器工作在支持的工作信道，默认工作信道为信道0,调制方式、前向链路基准时间
T。 和调制方式设置见表4;
c)
设置频谱分析仪或数字示波器为功率一时间模式，并处于下降沿触发等待中；
d) 被测读写器发出启动查询命令，命令参数见表3;
GB/T 35102—2017
e) 频谱分析仪或数字示波器采集完整的启动查询命令信号；
f) 测量启动查询命令的前导码的分隔符、校准符一、校准符二的持续时间；
g)
改变被测读写器的调制方式、前向链路基准时间T。和调制深度，重复步骤a)～f),直至表4中
所有测试用例都测试完毕；
h) 改变频谱分析仪的中心频率和被测读写器的工作信道，重复步骤 a)～f)。
分隔符长度测量、校准符一和校准符二长度测量见图7,分隔符长度测量应以分隔符的上升和下降
包络的50%为起止，校准符长度测量应以前一符号上升包络和本符号上降包络的50%为起止。
style="width:12.0799in;height:6.03861in" />
时间/ms
图 7 前导码测量示例
测试报告应记录被测读写器的调制方式、调制深度、T。时间、分隔符长度、校准符一长度、校准符二
长度，并计算长度允差。
验证读写器解调是否符合 GB/T 29768—2013 中5.3.2的要求：读写器应能解调 ASK
和(或)PSK 调制的标签反向散射；验证读写器是否能够对GB/T 29768—2013
中5.3.3规定的标签不同编码下的信
号进行解码。
读写器解调和解码测试步骤如下：
a) 采用图2或图3所示测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
d) 按表6前导码参数中首个测试用例参数设置读写器前导码参数；
e) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表5,按表6中TRe、
反向链路速率因子、编码选
GB/T 35102—2017
择参数的首个测试用例设置启动查询命令参数；
f) 设置数字示波器处于功率一时间模式，并处于功率触发等待中；
g) 标签模拟器在收到被测读写器发送的启动查询命令后，自动以 ASK 或 PSK
调制方式反向散
射一个11位随机数和5位校验位的应答，应答的速率和编码方式应符合收到的启动查询命令
的要求；
h)
如果被测读写器成功收到11位随机数和5位校验位的标签模拟器响应，则自动发送一个编码
获取命令，命令内容见GB/T 29768—2013 的6.5.8;
i) 使用数字示波器采集解调的功率—时间曲线；
j) 对于表6中的测试用例，依次改变 T。、TR、
反向链路速率因子、编码选择参数，重复步骤 f)～i)。
表 5 启动查询命令参数
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表 6 读写器解调和解码测量参数
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6.25 μs |
| 12.5 μs | ||
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测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数
下读写器发送编码获取命令的结果。
GB/T 35102—2017
验证读写器链接时序 T: 是否符合 GB/T 29768—2013
中5.5的要求：读写器链接时序 T: 最小为
3Tpm,最大为20Tpi。
读写器链接时序 T₂ 测试步骤如下：
a) 采用图2或图3所示测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
d) 按表6前导码参数中首个测试用例参数设置读写器前导码参数；
e) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表5,按表6中TRex、
反向链路速率因子、编码选 择参数的首个测试用例设置启动查询命令参数；
f) 设置数字示波器处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中；
g) 标签模拟器在收到被测读写器发送的启动查询命令后，自动以 ASK 或 PSK
调制方式反向散
射一个11位随机数和5位校验位的应答，应答的速率和编码方式应符合收到的启动查询命令
的要求；
h)
如果被测读写器成功收到11位随机数和5位校验位的标签模拟器响应，则自动发送一个编码
获取命令，命令内容见表7;
i)
使用数字示波器采集解调的功率—时间曲线，测量标签模拟器返回校验位的最后一位结束到
读写器编码获取命令分隔符开始的时间间隔，即为 T₂ 时间；
j) 对于表6中的测试用例，依次改变 T.、TR、
反向链路速率因子、编码选择参数，重复步骤
f)～i)。
T₂
时间测量见图8,测量应以响应结尾上升包络和命令前导码分隔符下降包络的50%为起止。
style="width:11.90667in;height:5.90656in" />
时间/ms
图 8 T₂ 时间测量示例
GB/T 35102—2017
测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数
下 T₂ 的测量值。
验证读写器链接时序 T。是否符合GB/T 29768—2013
中5.5的要求：读写器链接时序 T。 最小为
读写器链接时序 T³ 测试步骤如下：
a) 采用图2或图3所示测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
d) 按表8前导码参数中的测试用例参数设置读写器前导码参数；
e)
被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表7,按表8中反向链路速率因子的首个测试用例
设置启动查询命令参数；
f) 设置数字示波器处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中；
g) 标签模拟器在收到被测读写器发送的启动查询命令后，自动以 ASK 或 PSK
调制方式反向散
射一个11位随机数和5位校验位的应答，应答的速率和编码方式应符合收到的启动查询命令
的要求；
h)
验证被测读写器成功收到11位随机数和5位校验位的标签模拟器响应后，是否自动发送一个
编码获取命令，命令内容见GB/T 29768—2013 的6.5.8;
i) 关闭标签模拟器，关闭载波，再重新打开载波；
j) 被测读写器发出启动查询命令，命令内容见表7,反向链路速率因子同步骤
g) 的启动查询 命令；
k)
验证被测读写器是否随后发送一个重复查询命令或分裂命令或收缩命令，命令内容见
GB/T 29768—2013 的6.5.4、6.5.5和6.5.7;
1)
使用数字示波器采集解调的功率—时间曲线，测量启动查询命令最后一个位结束到下一个命
令分隔符开始的时间间隔，即为(T₁+T;) 时间；
m) 用步骤1)测量得到的(T₁+T₃) 时间减去相同链路速率条件下 GB/T
29768—2013 中 表 6 的 Ti 的最大值，即为 T。时间；
n) 对于表8中的测试用例，改变反向链路速率因子，重复步骤 f)～m)。
T₁+T₃
时间测量见图9,测量应以启动查询命令结尾上升包络和最后命令前导码分隔符下降包络
的50%为起止。
表 7 启动查询命令参数
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GB/T 35102—2017
表 8 链接时序 T₃ 测量参数
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style="width:11.8in;height:5.84672in" />
时间/ms
图 9 T,+T₃ 时间测量示例
测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数
下(T₁+T₃) 的测量值和 T₃ 的计算值。
GB/T 35102—2017
5.10.1 测试目的
验证读写器链接时序 T₄ 是否符合 GB/T 29768—2013
中5.5的要求：读写器链接时序 T 最 小
为 3T。。
5.10.2 测试步骤
读写器链接时序 T, 测试步骤如下：
a) 采用图1或图3所示测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
d)
按表8前导码参数中的测试用例参数设置读写器前导码参数，按反向链路速率因子的首个测
试用例设置启动查询命令参数；
e) 设置频谱分析仪处于功率—时间模式，并处于功率触发等待中；
f) 被测读写器发出分类命令，然后发送启动查询命令，命令内容见表7;
g)
使用频谱分析仪采集解调的功率—时间曲线，测量读写器分类命令最后一个位结束到启动查
询命令分隔符开始的时间间隔，即为 T 时间；
h) 对于表8中的测试用例，改变反向链路速率因子，重复步骤 f)～g)。
T₄
时间测量见图10,测量应以分类命令结尾上升包络和启动查询命令前导码分隔符下降包络的
50%为起止。
style="width:11.91328in;height:5.83228in" />
时间
图10 T₄ 时间测量示例
5.10.3 测试报告
测试报告应记录被测读写器的工作信道、调制深度以及在不同的前导码参数和启动查询命令参数
下 T 的测量值。
GB/T 35102—2017
5.11.1 测试目的
验证读写器是否支持 GB/T 29768—2013
中6.5规定的所有必选命令和声称的可选命令。
5.11.2 测试步骤
读写器命令测试步骤如下：
a) 采用图1或图3所示测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
d) 读写器驱动标签模拟器转换到指定的状态，并持续发送载波；
e) 设置频谱分析仪处于功率一时间模式，并处于功率触发等待中；
f) 读写器发射待验证的测试命令，并等待标签模拟器响应；
g)
使用频谱分析仪采集读写器命令和标签模拟器响应信号，验证读写器命令内容是否符合要求，
以及读写器是否收到标签模拟器响应并正确处理；
h) 重复步骤d)～g), 测量所有必选命令和声称的可选命令。
5.11.3 测试报告
测试报告应记录读写器支持命令的名称及所属的类型，以及命令格式和内容。
5.12.1 测试目的
验证读写器多标签防碰撞机制是否符合 GB/T 29768—2013中6. 1的要求。
5.12.2 测试步骤
读写器多标签防碰撞机制测试步骤如下：
a) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
b) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
c) 将至少100个基准标签按照图11所示的方式进行排列，标签中心点间隔100
mm, 读写器天线 应尽可能多的覆盖基准标签。
d) 按读写器支持的参数设置启动查询命令内容，并开始盘点标签；
e) 记录被测读写器在判断盘点结束后，识读到的不同标签数目；
f) 重复步骤 d)～e)至少3次。
若被测读写器没有提供自定义的方法，则根据读写器提供的命令接口，使用GB/T
29768—2013 中
6.1多标签防碰撞处理流程和附录 A
中建议的盘点结束条件对读写器多标签防碰撞处理进行测试。
若被测读写器没有提供盘点自动结束功能，则测试时应至少保持盘点过程30 s。
GB/T 35102—2017
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说明：
—基准标签。
图 1 1 基准标签排列方式
5.12.3 测试报告
测试报告应记录被测读写器重复测试次数，以及每次成功识读的不同标签个数。
5.13.1 测试目的
验证读写器安全鉴别协议和安全通信协议是否分别符合GB/T 29768—2013
的6.6和6.7的要求。
读写器应至少实现 GB/T 29768—2013 的6.6 规定的一种鉴别协议。
5.13.2 测试步骤
读写器安全协议测试步骤如下：
a) 采用图3所示测试装置进行测试；
b) 设置被测读写器工作在最大发射功率下和支持的最大调制深度下；
c) 读写器工作在支持的工作信道和调制方式下，默认工作信道为信道0;
d) 设置被测读写器支持的安全协议测试用例及相关参数；
e) 读写器驱动标签模拟器转换到指定的状态，并持续发送载波；
f) 设置频谱分析仪处于功率— 时间模式，并处于功率触发等待中；
g) 安全鉴别协议按照GB/T 29768—2013
的6.6规定的鉴别协议流程进行测试，安全通信协议按 照 GB/T 29768—2013
的6.7规定的安全通信协议流程进行测试；
h)
使用测试装置采集读写器命令和标签模拟器响应信号，验证读写器是否按照规定流程执行安
全鉴别协议或安全通信协议，以及命令内容是否符合要求，读写器是否收到标签模拟器响应并
正确处理。
GB/T 35102—2017
5.13.3 测试报告
测试报告应记录读写器支持安全协议的名称以及测试过程中读写器的命令格式、内容和标签模拟
器响应的内容，并说明被测读写器的安全鉴别协议和安全通信协议是否符合 GB/T
29768—2013 的
要求。
验证标签能否解调符合GB/T 29768—2013 中5.2.1的要求：标签应能解调DSB-ASK
和 SSB-ASK
的调制方式。
标签解调测试步骤如下：
a) 采用图4或图5所示测试装置进行测试；
b) 被测标签处于未上电状态；
c) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为
DSB-ASK 或 SSB- ASK, 调制深度为100%,载波频率设置见表9的工作频率；
d)
设置频谱分析仪为频率模板触发方式，中心频率为矢量信号发生器的载波频率；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载
波，命令参数见表10;
f) 验证频谱分析仪在矢量信号分析仪发送启动查询命令结束后1 s
内被测标签是否返回响应；
g) 改变矢量信号发生器的载波频率，重复步骤
b)～f),直至表9中的所有工作频率用例都测试 完毕；
h) 改变矢量信号发生器发送信号的调制方式，重复步骤 b)～g),直至 DSB-ASK
和 SSB-ASK 两
种调制方式都测试完毕。
表 9 标签解调测试用例
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GB/T 35102—2017
表10 标签解调测试参数
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6.25 μs或12.5 μs |
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测试报告应记录测试过程中的前导码参数、启动查询命令参数、工作频率，并应记录被测标签支持
的解调方式。
验证标签工作频率是否符合GB/T 29768—2013
中5.2.2的要求：在标签支持的工作频率范围内，
标签应能正确接收命令并正确响应。
标签工作频率测试步骤如下：
a) 采用图4或图5所示测试装置进行测试；
b) 被测标签处于未上电状态；
c)
设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为DSB-ASK 或
SSB-ASK, 调制深度为100%,载波频率设置见表11的工作频率；
d)
设置频谱分析仪为频率模板触发方式，中心频率为矢量信号发生器的载波频率；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载
波，命令参数见表10;
f) 验证频谱分析仪在矢量信号分析仪发送启动查询命令结束后1 s
内被测标签是否返回响应；
g) 改变矢量信号发生器的载波频率，重复步骤
b)～f),直至表11中的所有工作频率用例都测试 完毕。
表11 标签工作频率测试用例
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GB/T 35102—2017
测试报告应记录测试过程中的前导码参数、启动查询命令参数，并应记录被测标签支持的工作
频率。
验证标签 FMO 编码的基带编码是否符合GB/T
29768—2013中5.3.3.2.1的要求；米勒编码的基带 编码是否符合GB/T 29768—2013
中5.3.3.3.1的要求；米勒副载波调制是否符合GB/T 29768—2013
中5.3.3.3.2的要求。
标签基带编码和副载波调制测试步骤如下：
a) 采用图5所示测试装置进行测试；
b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为
DSB-ASK 或 SSB- ASK,
调制深度为100%,载波频率设置见表12首个测试用例的工作频率，按表12中首个测
试用例设置启动查询命令；
c) 被测标签处于未上电状态；
d) 设置数字示波器为功率一时间模式，且处于下降沿触发状态；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续 载波；
f) 等待数字示波器被触发，采集解调后标签应答信号包络；
g)
根据启动查询命令的编码选择参数所选的编码方式和副载波调制方式对该标签应答信号包络
解码；
h) 验证标签应答信号数据编码正确、且信号的逻辑数据长为16且 CRC
校验正确；
i)
改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的编码选择参数、反向链路速率因子，前导码
的 T。时间，重复 c)～h),直至表12中所有测试用例都测试完毕。
表12 标签基带编码和副载波调制测试用例
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GB/T 35102—2017
表12(续)
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GB/T 35102—2017
表12(续)
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测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录标签支持的基
带编码和副载波调制方式及其编码占空比。
验证标签 FMO 编码的前导码是否符合GB/T 29768—2013
中5.3.3.2.2的要求；验证标签米勒编码
的前导码是否符合 GB/T 29768—2013 中5.3.3.3.3的要求。
标签前导码测试步骤如下：
a) 采用图5的测试装置进行测试；
b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为
DSB-ASK 或 SSB-
GB/T 35102—2017
ASK,
调制深度为100%,载波频率设置见表13首个测试用例的工作频率，按表13中首个测
试用例设置启动查询命令；
c) 被测标签处于未上电状态；
d) 设置数字示波器为功率一时间模式，且处于下降沿触发状态；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载
波，等待数字示波器被触发，采集解调后标签应答信号包络；
f)
根据启动查询命令的编码选择参数所选的编码方式和副载波调制方式对该标签应答信号包络
解码；
g) 验证标签应答信号前导码编码格式正确、且随后信号的逻辑数据长为16;
h)
改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的编码选择参数、反向链路速率因子，前导码
的 T. 时间，重复c)～g),直至表13中所有测试用例都测试完毕。
表13 标签前导码测试用例
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GB/T 35102—2017
表13(续)
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GB/T 35102—2017
测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录标签支持的
FM0 前导码和米勒编码前导码。
验证标签反向链路频率和频率允差是否符合GB/T 29768—2013 中5.3.4的要求。
标签反向链路频率和频率允差测试步骤如下：
a) 采用图5的测试装置进行测试；
b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为
DSB-ASK 或 SSB- ASK,
调制深度为100%,载波频率设置见表14首个测试用例的工作频率，按表14
中测试用 例设置启动查询命令；
c) 被测标签处于未上电状态；
d) 设置数字示波器为功率一时间模式，且处于下降沿触发状态；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续 载波；
f)
数字示波器在接收到被测标签响应信号后，发送编码获取命令，命令内容见表15;
g)
使用数字示波器仪采集编码获取命令后的标签响应信号，获取解调后的信号包络；
h) 测量被测标签响应信号的数据速率，该数据速率即为标签反向链路频率；
i)
根据测量得到的标签反向链路频率与反向链路频率的标称值比较，计算频率允差；
j)
改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的反向链路速率因子，重复c)～i),直至表14
中所有测试用例都测试完毕。
表14 标签反向链路频率和频率允差测试用例
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GB/T 35102—2017
表15 编码获取命令内容
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测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录测量的反向链
路频率最大值和最小值以及频率允差最大值和最小值。
验证标签链接时序T: 是否符合GB/T 29768—2013中5.5的要求：T₁
最小值为10Tm(1— \|FT \|) 一
2μs,最大值为10T(1+ \|FTI)+2 μs。
标签链接时序 T, 测试步骤如下：
a) 采用图5的测试装置进行测试；
b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为
DSB-ASK 或 SSB- ASK,
调制深度为100%,载波频率设置见表14首个测试用例的工作频率，按表14
测试用例 设置启动查询命令；
c) 被测标签处于未上电状态；
d) 设置数字示波器为功率—时间模式，且处于下降沿触发状态；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续载波；
f) 等待数字示波器被触发，采集解调后标签应答信号包络；
g)
测量启动查询命令最后一个位结束到标签返回信号分隔符开始的时间间隔，即为
T₁ 时间；
h)
改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的反向链路速率因子，重复c)～g),直至表14
中所有测试用例都测试完毕。
T₁
时间测量见图12,测量应以启动查询命令结尾上升包络和标签响应前导码首个下降包络的
50%为起止。
GB/T 35102—2017
style="width:10.91343in;height:5.35986in" />
时间/ms
图12 T, 时间测量示例
测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录测量的链接时
序 Ti。
验证标签链接时序 T。是否符合GB/T 29768—2013
中5.5的要求：T。时间最小值为3Tm, 最大值
为20Tm。
标签链接时序 T。测试步骤如下：
a) 采用图5的测试装置进行测试；
b) 设置矢量信号发生器发射功率为被测标签可接收的功率，调制方式为
DSB-ASK 或 SSB- ASK,
调制深度为100%,载波频率设置见表14首个测试用例的工作频率，按表14中测试用
例设置启动查询命令；
c) 被测标签处于未上电状态；
d) 设置数字示波器为功率一时间模式，且处于下降沿触发状态；
e) 矢量信号发生器发送至少1 ms
的连续的无调制载波后，发送启动查询命令，然后产生连续 载波；
f)
数字示波器在接收到被测标签响应信号后，发送编码获取命令，命令内容见表15;
g) 步骤 c)～f)将按下面方式重复：
1) 标签应响应在3Tm 时读写器发出的命令；
2) 标签应响应在20Tm 时读写器发出的命令；
3) 标签不能响应在20Tmi+TAck+T₁ 时读写器发出的命令；
h) 改变矢量信号发生器的载波频率，启动查询命令的反向链路速率因子，重复
c)～g),直至表14 中所有测试用例都测试完毕。
GB/T 35102—2017
TAck是编码获取命令的持续时间。
测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录被测标签在
T:
要求的范围以内是否响应读写器命令，在T,
要求的范围以外不应反向散射信息。
验证标签状态转换是否符合 GB/T 29768—2013 中6.4的要求。
标签状态转换测试步骤如下：
a) 采用图5所示测试装置进行测试；
b) 设置数字示波器为功率一时间模式；
c)
选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置矢量信号发生器参数；
d)
设置被测标签为测试的初始状态"准备",为将被测标签设置到测试初始状态，需在表16
中查
找相应的状态转换序列，然后通过查找表17中相应的命令，设置矢量信号发生器发送表17中
读写器命令；
e) 设置矢量信号发生器发出GB/T 29768—2013 中附录B 中定义的命令；
f) 验证被测标签是否处在正确的标签状态，并做出正确的响应；
g)
对于所有的标签状态，包括：仲裁、应答、鉴别、开放、安全、灭活，重复步骤
b)～步骤d)。
表16 标签状态转换序列表
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GB/T 35102—2017
表17 标签状态转换表
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启动查询、分裂、重复查询、分散、
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测试报告应记录测试过程中的工作频率、前导码参数、启动查询命令参数，并应记录被测标签在各
状态下的响应内容。
验证标签是否正确识别和响应 GB/T 29768—2013 中6.5要求的必选命令。
GB/T 35102—2017
标签命令测试步骤如下：
a) 采用图5所示测试装置进行测试；
b)
选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置矢量信号发生器参数；
c) 驱动被测标签处于待验证命令有响应的状态；
d) 在指定的标签状态下发送待验证的测试命令；
e) 验证命令发送后在标签响应时间内标签返回命令或标签转换所处的状态；
f) 验证矢量信号发生器发送的命令格式是否与GB/T
29768—2013中规定的读写器命令格式一
致，标签是否正确响应矢量信号发生器命令并实现正确的状态转换。
测试报告应记录标签支持命令的名称及所属的类型，并应说明标签是否支持
GB/T 29768—2013
要求的必选命令。
6.10.1 测试目的
验证标签防碰撞是否符合 GB/T 29768—2013 中6. 1的要求。
6.10.2 测试步骤
标签防碰撞测试步骤：
a) 将至少100个被测标签按图13所示方式进行排列，标签中心点间隔100 mm;
b)
选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置测试用读写器参数；
c)
设置测试用读写器为自身支持的最大发射功率，测试用读写器放置于能够与所有标签进行通
信的位置；
d) 测试用读写器采用GB/T 29768—2013中6. 1和附录 A
中建议的多标签防碰撞处理流程和盘 点结束条件对标签防碰撞进行测试；
e) 确认测试用读写器是否成功识读所有标签；
f) 记录测试用读写器在判断盘点结束后，识读到的标签数目；
g)
将至少50个被测标签和至少50个基准标签按图14所示方式进行排列，被测标签和基准标签
交叉放置，标签中心点间隔100 mm;
h) 重复步骤 b)～g)三次，记录识读到的标签数目。
style="height:0.39314in" />
style="width:0.76669in" />
style="height:0.40678in" />
style="width:0.78006in" />
style="height:0.40656in" />
style="width:0.77329in" />style="height:0.40678in" />GB/T 35102—2017
| 100 mm | ||
|---|---|---|
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|-----|-----|-----|
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|-----|-----|
说明：
style="width:0.40706in" /> -待测标签。
图 1 3 被测标签排列方式
style="height:0.40656in" />
■
style="height:0.39996in" />
说明：
基 准 标 签 ；
- 待测标签。
图 1 4 被测标签和基准标签排列方式
GB/T 35102—2017
6.10.3 测试报告
测试报告应记录测试用读写器的通信参数、发射功率、被测标签和基准标签数目及排列方式；记录
测试次数以及每次防碰撞测试中识读到的标签数目。
6.11.1 测试目的
验证标签安全鉴别协议和安全通信协议是否分别符合 GB/T 29768—2013
中6.6和6.7的要求。
标签应至少实现GB/T 29768—2013 中6.6规定的一种鉴别协议。
6.11.2 测试步骤
标签安全协议测试步骤如下：
a) 采用图5所示测试装置进行测试；
b)
选择标签支持的前导码参数、反向链路速率和基带编码设置矢量信号发生器参数；
c) 设置被测标签支持的安全协议测试用例及相关参数；
d) 驱动被测标签处于待验证安全鉴别协议和安全通信协议的状态；
e) 在指定的标签状态下进行安全鉴别协议和安全通信协议的测试；
f) 安全鉴别协议按照GB/T29768—2013
的6.6规定的鉴别协议流程进行测试，安全通信协议按 照 GB/T 29768—2013
的6.7规定的安全通信协议流程进行测试；
g)
使用测试装置采集命令发送后在标签响应时间内标签返回的命令，验证标签是否按照规定流
程执行安全鉴别协议或安全通信协议，以及标签返回命令内容是否符合要求，标签是否正确响
应测试装置发送的命令并实现正确的状态转换。
6.11.3 测试报告
测试报告应记录标签支持安全协议的名称以及测试过程中发送的命令内容和标签响应的内容，并
说明被测标签的安全鉴别协议和安全通信协议是否符合GB/T 29768—2013
的要求。
GB/T 35102—2017
(资料性附录)
测 试 场 地
A.1 测试场地和测试常规布置
A.1.1 概述
用于测试的场地分别有全电波暗室，半电波暗室和开阔场。
注：为了保证测试的复现性和可追溯性，测试中只能使用其中一种测试场地。
A.1.2 全电波暗室
全电波暗室是一个六面屏蔽的空间，在其内部的地板、墙壁和天花板上覆盖吸波材料。暗室里包括
天线架和转台， 一般分别安装在暗室的一端。典型的全电波暗室如图 A.1 所示。
style="width:8.91341in;height:5.43334in" />
图 A.1 典型的全电波暗室
暗室进行屏蔽设计和安装吸波材料可以保证测试环境符合测试要求。
全电波暗室模拟自由空间的情况。
屏蔽体构成了测试空间，减小了外界电磁波信号的干扰及其他影响，同时，射频吸波材料可以减小
由于墙壁和天花板的反射对测试结果的影响。实际上，屏蔽体的屏蔽效能可以达到80
dB～140 dB,在
这种情况下，外界环境的干扰可以忽略不计。
转台，可以在水平方向旋转360°,用于放置 DUT,
一般来说，指定相对地面的高度，比如1 m。 暗 室
的空间要保证测试距离至少为3 m 或 2(d₁+d2)²/λ
二者较大的值。在实际测试中，需要在测试结果
中记录测试距离。
同其他测试场地相比，全电波暗室的地面、天花板和墙壁反射最小，受外界环境干扰最小，并且不受
外界天气的影响。然而它也有一些缺点，如有限的测试距离、锥形吸波材料尺寸造成的有限的低频性
能。通常，采取同时使用铁氧体和吸波材料的方法以提高暗室的低频性能。
GB/T 35102—2017
A.1.3 半电波暗室
半电波暗室的地板是导电的，外壳通常为屏蔽体，内部的墙壁和天花板覆盖吸波材料。半电波暗室
的地板是金属的，不需要覆盖吸波材料。暗室里包括天线架和转台，
一般分别安装在暗室的一端。典型
的半电波暗室如图 A.2 所示。
style="width:9.85992in;height:5.88676in" />
图 A.2 典型的半电波暗室
半电波暗室模拟理想的开阔场，开阔场的主要特性是具有一个无限大的良好的导电地平面。
在半电波暗室中地面产生任意反射路径，这样接收天线接收到的信号是直接发射路径和反射路径
信号的总和。对于发射天线(或 DUT)
和接收天线的每个对地面的高度而言，接收到的信号电平是唯
一的。
天线架是用来在1 m～4m
调节天线高度的设施，通过调节天线高度，可以获得发射天线(或
DUT) 与接收天线之间的最大耦合信号。
转台可以在水平面旋转360°,用来支撑测试样品在一个指定的高度，通常是地面以上1.5
m。 暗 室 的空间要保证测试距离至少为3 m 或 2(d₁+d₂)²/λ
二者较大的值。在实际测试中，需要在测试结果
中记录测试距离。
A.1.4 开阔场
开阔场由放置在地面上的转台和可以升降高度的天线架组成，转台和天线架分别放置在开阔场的
两端，理想情况下，开阔场的地面具有良好的导电性，面积无限大。典型的开阔场如图
A.3 所示。
在开阔场中地面产生期望的反射路径，这样接收天线接收到的信号是直接发射路径和反射路径信
号的总和。对于发射天线(或 DUT)
和接收天线的每个对地面的高度而言，由于相位不同，接收到的信
号电平是唯一 的。
涉及天线高度、转台、测试距离和布置等方面的条件，与半电波暗室相同。
GB/T 35102—2017
style="width:10.21345in;height:5.99346in" />
图 A.3 典型的开阔场
A.2 场地准备
测试场地两端的连接电缆在测试区域内需要至少2 m
的水平方向的布线(除非在暗室中进行测
试，天线与暗室墙壁的距离较短),然后可以垂直方向布线，并且通过接地平面或隔板与测试仪器连接。
为了减小电缆的电磁干扰，需要采取必要的预防措施(例如使用磁环或其他负载)。对于电缆的布线和
使用磁环等负载应当与验证过程的布置相一致。
注：对于存在地面反射的场地(即半电波暗室和开阔场),一般在天线架上配合使用电缆线盘，对于这种情况，上述
的有关电缆长度2 m 的要求不适用。
所有测试设备都应具备有效的校准数据。
所有电缆和衰减器的校准数据应当包括针对所有测试频率范围的插入损耗和驻波系数。所有插入
损耗和驻波系数需要在测试项目的日志文件中存档。
当需要修正系数的时候，相关数据可以迅速获得。
对于所有的测试仪器，应当知道仪器的最大误差以及分布特性，如：
a) 电缆损耗：符合士0.5 dB 的矩形分布；
b) 测试接收机：符合1.0 dB (标准偏差)信号电平准确度高斯误差分布。
在测试开始之前，应检查所有将使用的测试仪器。
GB/T 35102—2017
(资料性附录)
测试方法与基础标准要求的关系
本标准中测试条款与GB/T 29768—2013 的对应关系见表B.1。
表 B.1 本标准与GB/T 29768—2013 对照表
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GB/T 35102—2017
(规范性附录)
标签模拟器
C.1 耦合式标签模拟器
耦合式标签模拟器应该有一个中间分开的λ/2偶极子天线，连接到一个匹配网络，在载波频率下，
将标签模拟器匹配到参考阻抗40 Ω+j800,以或图C.1 或 图C.2
所示的方式实现。
耦合式标签模拟器的集成电路阻抗电路应包含一个整流电路(例如，两个肖特基二极管
HSMS8202),
一个钽电容器，22 pF(NPO), 一 个 2 kΩ 的并联电阻。
注1:将反向散射器件连接到 一 个镜像电阻，或将它作为 一
个镜像电阻，将矢量信号发生器的调制用光塑料和发射
二极管传输，避免任何电气耦合产生的影响。
注 2 :
在直接耦合的情况下，矢量信号发生器的输出是反向散射器件控制信号，其幅度不超过反向散射器件控制信
号的幅度。
矢量信号发生器若接收到读写器已经发出命令的触发信号，应该根据 GB/T
29768—2013 产生 一
个响应的图形。除了触发信号，矢量信号发生器也可以有一个解调或其他手段检测命令的结束。不论
采用什么方法，应该保证从标签模拟器产生的响应在测试采用的操作模式的最小链路时序后发生。
style="width:12.32708in;height:6.82014in" />
图 C.1 采用直接耦合方式的标签模拟器
GB/T 35102—2017
style="width:12.36736in;height:7.29375in" />
图 C.2 采 用 光 耦 合 任 意 矢
量 信 号 发 生 器 的 标 签 模
拟 器
C.2 非 耦 合 式 标 签 模 拟 器
标签模拟器组成部分包括发射和接收两个通路，匹配网络、包络检波、低通滤波器、比较器、数字基
带处理单元的接收部分组成接收通路，数字基带处理单元的发射部分和射频开关组成发射通路，见
图 C.3。
style="width:11.22014in;height:4.82014in" />
style="width:0.21334in;height:0.16654in" />
图 C.3 采 用 任 意 矢 量 信 号
发 生 器 的 标 签 模 拟 器
匹配网络(并联7.5 nH 电感器，串联62 nH 电感器),包络检波的时间常数为0.
1μs～0.5 μs(肖特
基二极管 HSMS 2805并联100 pF 电容器)。
GB/T 35102—2017
低通滤波器1可以由130 kΩ 电阻器和10 pF 电容器组成。
低通滤波器2可以由130 kΩ 电阻器和1 μF
电容器组成。射频开关为单刀双掷开关，为了保证足
够的调制深度，分别接地或悬空(见图C.3)。
通过前端的处理后得到读写器发送命令的数字信号，通过数字基带处理单元对命令进行处理，并通
过数字信号控制射频开关得到反向散射调制波形，所有的链路时序等电气参数以及命令格式等协议参
数均由数字基带处理单元进行控制。
更多内容 可以 GB-T 35102-2017 信息技术 射频识别 800-900MHz空中接口符合性测试方法. 进一步学习